科研人必备的PS技能：长度测量和粒径分布统计

小通上次跟大家实例演示了PS在科研中的应用：高清引用图片和精确旋转，受到大家的热烈欢迎。因此，这次继续推出PS科研应用的教程：长度测量和粒径分布统计。

没看的童鞋，回顾一下。

测量长度

标尺工具

◆ ◆ ◆

▍PS测量相对长度：根据Scale bar测量对象的长度。

▼动画演示

操作时请结合缩放工具和抓手工具使用

图片来源：JACS, 2008, 130(1):28-29

操作步骤：

1. 选择标尺工具

2. 标尺测量scale bar的像素大小

3. 设置测量比例

4. 标尺测量对象的长度，根据设置的测量比例会转换为长度

▍步骤分解

选择左侧工具栏的标尺工具

用标尺工具测量scale bar的像素

点击图像-分析-设置测量比例-自定义

图中的L1为scale bar的像素长度（取整为18）

在测量比例中设置：

像素长度：18，逻辑长度：100，逻辑单位：nm

这时再用标尺工具测量图中的球直径时

L1就是逻辑长度了

比如上图，直径为473.81nm

批量测量

记录测量、粒径分布统计

◆ ◆ ◆

▍批量测量：测量平均尺寸时需要用到，还有需要做尺寸统计时也要用到。

▼动画演示

操作步骤：

1. 点击图像-分析-记录测量

2. 测量对象

3. 记录测量

▍步骤分解

点击图像-分析-记录测量

这时窗口下方出现记录测量栏

每测量一次，点击记录测量，就会保存该测量数据

右键，点击导出，可以将这些记录保存为txt

保存时弹出的对话框，点击保存即可

这样通过对长度栏的数据处理

即可作出粒径分布图哦

本文为系列连载

敬请期待

更多PS的科研应用实例

快点在看、转发支持吧~

点击阅读原文，查看更多软件教程。