喆塔A.B.C | 晶圆厂缺陷分析与改善，选用ZetaDMS一步到位
在半导体产业领域，对缺陷管理与分析一直是一项颇具挑战性的问题。如何对海量的检测机台文件实时解析入库，如何对海量的数据进行自动缺陷分类，如何快速进行缺陷根因分析定位问题并快速出自动分析报告，助力企业持续改进生产工艺和流程，以提高产品质量和可靠性等。
针对这些诉求，喆塔的业务专家及技术专家团队结合大量客户需求，贴合YE工程师日常工作场景和使用习惯，用最先进的技术架构，考量满足工厂未来5-10年产能等综合因素进行产品设计，打造了一款完全国产自主可控的缺陷数据管理与分析系统ZetaDMS。
解决核心问题，提升运营效率
ZetaDMS针对半导体工厂的日常生产中遇到的问题，提供了全面、快速且高效的解决方案。
首先，ZetaDMS可无缝替代国外传统DMS，能够提供客制化开发服务，且更具成本优势，让您告别高昂的License费用。其次，ZetaDMS可提高工程师效率，提供丰富的Defect分析组件和简易操作方式，使工程师能够高效准确决策。最后，ZetaDMS支持多维度实时监控和大数据AI算法分析，发现隐藏在数据背后的价值。
传统DMS的局限，ZetaDMS有了新突破
传统DMS软件因为底层设计的差异，在当下晶圆厂高度数字化的制造场景中，存在一定的局限性。
ZetaDMS的引入，可以避免传统DMS的局限。ZetaDMS采用了稳定的数据解析集群和高可用架构，避免了单点故障，确保了数据解析的持续稳定。ZetaDMS优异的性能，灵活的扩展能力，兼容Oracle/MPP等多种数据库，满足分析人员海量Defect数据日常分析需求，也可轻松应对未来增长的需求。此外，ZetaDMS还引入了AI应用，实现了Defect Pattern的自动分类和缺陷数据的快速识别与处理，大幅提升了分析效率。
ZetaDMS的独特竞争优势
ZetaDMS作为喆塔科技ZetaCube数字化智能分析系列软件产品之一，凝结着喆塔科技多年来在半导体工业软件领域的技术沉淀，加上贴近真实使用场景设计的交互逻辑，在保留工程师原有习惯的基础上，增加了更多丰富易用的功能。
ZetaDMS具备自动化缺陷分析、全方位Defect监控、高可用性和灵活拓展性的优势。可快速锁定Defect来源，协助晶圆厂提升良率，缩短周期并增强企业竞争力。同时支持单一维度和多维度监控，确保生产最佳状态运行。系统可根据用户数据量和场景提供最佳方案，支持多种数据库，满足用户需求。
产品愿景：让晶圆厂缺陷分析更高效
ZetaDMS能通过以下三个方面，为晶圆厂提升缺陷分析效率：
实现自动化缺陷分析：ZetaDMS能自动分析缺陷生成报告，有丰富分析模块和算法平台，支持自定义探索性分析，有助于工程师定位Defect来源，提升良率和运营效率。
全方位预防缺陷：ZetaDMS能监控多种维度指标，分析历史数据、WIP、设备性能度量和制程能力等，运用先进的数据分析和深度学习技术预测问题，协助用户提前采取预防措施，避免缺陷产生。
全面的缺陷管理：ZetaDMS实现各产品生命周期中缺陷相关数据的全面跟踪和管理，建立完善的缺陷信息知识库，涵盖设计、新品导入、量产等各个阶段，使用户能基于数据进行精确决策，改进产品设计和优化生产流程，提高产品质量与生产效率。
喆塔科技ZetaDMS是一套全面且功能强大的产品解决方案，它具备快速缺陷分类和根因分析的能力，并拥有丰富的分析图表功能，能够显著提升业务工程师的缺陷分析效率，进一步优化晶圆厂的生产效率和产品良率。我们深信ZetaDMS将成为客户提升市场竞争力、获得更大成功的重要支撑。ABC=AI,BIGDATA,CLOUD
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